SolidSpec-370Z初研发的目的是为了对液体样品进行吸光度检测。近些年，由于快速增加的固体反射率和吸光度测定要求，高精度高能量的分光光度计在市场上大受欢迎，包括对半导体、胶片、玻璃和其他吸附性固体材料。同时，生命科学领域中也需要高通量的分析仪对超痕量样品进行高速及高敏感度分析，适用于光学、半导体及FPD应用—岛津UV-VIS-NIR分光光度计。
是一款高灵敏度分光光度计，可进行深紫外区检测，具备大样品室，可满足光学、半导体及FPD在以下方面的检测需求。
FPD：
材料评估中NIR和大样品的高灵敏度测定。
半导体：
短波长激光和12英寸晶片整体表面的深紫外区测定。
光通信：
减反射膜NIR高灵敏度测定。
光学：
从DUV到NIR再到大样品的高灵敏度分析。
SolidSpec-370/3700DUV特点
高灵敏度
SolidSpec-3700和3700DUV是台使用3个检测器的分光光度计：光电倍增管（PMT）探测器检测紫外区和可见光区，近红外区使用InGaAs 和 PbS检测器。InGaAs 和 PbS检测器的使用使得近红外区域的灵敏度显著增强。
深紫外区检测
SolidSpec-3700DUV具有检测深紫外区的能力，可测定至165nm或175nm的积分球。此检测是用氮气吹扫光室和样品室进行的。注： 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光单元DDU-DUV测定）的短波长。
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